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新型调制叶绿素荧光成像系统IMAGING-PAM

全叶片荧光成像,精确到每个像素,光合作用横向异质性分析,多达17个荧光参数,代表了调制叶绿素荧光技术的未来发展趋势。

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WinRHZIO根系分析系统

洗根后的专业根系分析系统,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等

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植株营养测定仪

ZZY植株营养测定仪可以即时测量植物的叶绿素相对含量、氮含量,叶片温度和叶片水分(水厚度)四个参数。

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YHD系列叶片厚度仪

YHD系列叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具,可以精准的测量出叶片的厚度。

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FS-3080C泛胜植物气孔计

FS-3080C泛胜植物气孔计用来定量测量各种因素对叶片气孔行为的影响,可方便、重复、准确地计算出气孔阻抗、气孔导度和蒸腾速率,还可测得空气温湿度,叶面温度,光合有效辐射。

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YLS-A泛胜叶绿素仪测量原理

YLS-A泛胜叶绿素仪可以准确测量出植物叶片中叶绿素的相对含量,从而为合理、适当、及时施肥提供可靠的科学依据,广泛应用于农业生产和科学研究。

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叶面积指数仪

FS-2000叶面积指数仪用于各种高度植物冠层的研究,利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像,通过专用分析软件,获得植物冠层的相关指标和参数。

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DDY泛胜微电脑茎秆强度仪

DDY泛胜微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺,压碎、和弯曲强度,茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力,即茎秆的强度。

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泛胜FS-PAR作物冠层分析仪

泛胜FS-PAR作物冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。

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ZZY泛胜叶片水分仪

ZZY泛胜叶片水分仪是利用反射光谱信息提取叶片水分的含量。叶片水分测定仪是利用945nm和975nm波长叶片反射率差值,并结合Beer定律,推导出叶片的等效水厚度。

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