Discovery氙灯导热仪(DXF)使用高速氙灯脉冲发射源(HSXD)。与激光导热仪相比，其价格更低、所需的维护更少，但能得到相同的测试效果。反射式光学系统充分利用了氙灯闪光管的功率，并将其传输到样品上。

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四点弯-半导体薄膜结合力检测系统V8.2是独创的四点弯测试系统，来自于史坦福大学，半导体专业生产线应用，经历超过8年的开发和优化来提高测试能力、稳定性和产量。系统和软件的控制通过大量的修正来提高测试能力、控制和数据分析。可以满足微电子设备、工具和材料公司的

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德国BMT PistonScan活塞表面扫描仪用于活塞及圆柱形物体表面的自动可视化检测。可在数秒内高质量扫描整个表面，并且可评估各种缺陷，如抛光、划伤、沉孔、麻点、碳化、咬粘、腐蚀斑点和涂层缺陷。

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力学表面张力仪可测量表面张力、界面张力、临界胶束浓度、动态接触角、固体表面自由能、粉体润湿性、悬浊液沉降速度和液体密度等。可用于科研、研发和质量控制领域。力学表面张力仪可精确测量一系列的材料性质，表界面张力和接触角可以为气液固三相间的相互作用提供非常

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消声室/无响室/静音室/隔声室/吸声室/混响室  （或伴消声室）是声学实验和噪声测试中极其重要的实验场所。其作用是提供一个自由场或半自由场空间的低噪声测试环

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日本KETT膜厚仪LZ-990型是一款小巧、精度高、功能全面的便携式两用涂镀层膜厚仪，适用于：网版油墨印刷层、硅胶油墨涂层、金属热镀锌层，金属电泳层等膜厚测试。本司还具备维修、校正、销售服务。

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数字式密度计，用于测量相对密度和液体溶液的浓度，测量范围0.00000-1.99999g/cm3，精确到5位小数。采用U型振荡原理，通过窗口监测玻璃U形管，保证测量结果不受气泡的影响。

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德国BMT CMM 粗糙度测量系统用于CMM探针的小型的粗糙度测量仪，可大幅度地降低测量成本。

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面粉厂、食品厂和科研机构检测和控制面粉质量检测磨辊是否调节合适，如平行，磨损 

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纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。

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